屏蔽罩谐振点测量

什么是屏蔽罩谐振点？

屏蔽罩是电磁兼容性（EMC）技术的一种常用手段，它是由金属材料制成的一种外壳，用于屏蔽电路或设备中的电磁波。但是屏蔽罩也有一个问题，就是当入射的电磁波波长与罩的尺寸相当时，就会在罩内形成谐振，从而在罩内形成电磁波场，从而损害系统。这个频率便是屏蔽罩的谐振点。

如何测量屏蔽罩谐振点？

一种常用的测量屏蔽罩谐振点的方法是根据屏蔽罩内部的电场和磁场的耦合，通过测量传输因子的变化来确定罩内电磁场的谐振频率。这个传输因子是通过在屏蔽罩外面放置一个较小的天线（称为探测天线）来测量的。

首先，将探测天线放置在屏蔽罩外侧约1m的地方，然后测量其输出功率，然后移动探测天线靠近屏蔽罩，不断改变接收天线的位置，最后记录输出功率的变化。当探测天线靠近罩体时，屏蔽罩的谐振点会引起输出功率的剧烈变化，这个频率便是屏蔽罩的谐振点。

如何改善屏蔽罩的谐振问题？

为了避免屏蔽罩谐振问题带来的影响，可以采取以下措施：

1. 设计时尽量避免屏蔽罩的谐振点落在系统操作频率附近。
2. 增加屏蔽罩的壁厚或对屏蔽罩进行多层隔离，以增加谐振的阻抗。
3. 加入衰减材料或衰减绕组来吸收罩内的谐振能量。