如何检验屏蔽罩平面度

在电子制造过程中，屏蔽罩是必不可少的组件，它能够保护电子器件不受到外界电磁波的干扰。其制造要求很高，而屏蔽罩平面度的准确性也影响了产品的质量和性能。下面将介绍如何检验屏蔽罩平面度。

使用直尺和游标卡尺

使用直尺和游标卡尺是一种简单且常见的检验方法。首先，将直尺放在屏蔽罩内部，找到屏蔽罩内侧壁最低点，使用游标卡尺测量该点到直尺的距离。然后，将直尺在屏蔽罩内侧水平移动，每隔几毫米测量一次距离，直到达到另一侧壁最低点，计算两处距离的平均值，判断平面度是否合格。

采用激光扫描仪

采用激光扫描仪是一种较先进且精确的检验方法。激光扫描仪能够生成整个屏蔽罩表面的三维模型，并提供精确的数据分析。操作时，将激光扫描仪放置在屏蔽罩上方，启动扫描程序，等待扫描完成并生成数据。根据数据分析结果，确定屏蔽罩平面度的合格性。

使用平面度检测仪

使用平面度检测仪也是一种精确的检验方法。这种检测仪能够检测出某一平面与其他平面相比的高度偏差值。操作时，将平面度检测仪放置在屏蔽罩上方并调节仪器到正确的高度。然后，启动仪器并将测量头轻轻触碰屏蔽罩表面，等待几秒钟后，读取高度偏差值。根据偏差值来判断屏蔽罩平面度是否合格。

总之，在制造屏蔽罩的过程中，平面度的检测至关重要，关乎电子器件的质量。以上介绍三种常见的屏蔽罩平面度检验方法，供大家参考。