屏蔽罩平面度CCD-屏蔽罩平面度检测包装机

屏蔽罩平面度问题

屏蔽罩平面度是指屏蔽罩表面与CCD芯片表面的平面距离差，这个问题比较普遍，一般在镜头及相机设计中都会遇到。这篇文章将会讲解屏蔽罩平面度问题的原因及可能产生的影响，以及如何避免屏蔽罩平面度对CCD产生影响。

问题原因

屏蔽罩平面度问题主要由两个因素引起，首先是屏蔽罩本身，其次是CCD芯片的安装位置。 由于制造原因，可能会出现生成的屏蔽罩表面不平，可以有起伏，而CCD的安装位置是厚度有限的。屏蔽罩薄边被压住，厚边则未被压住，导致平面度问题。

可能产生的影响

屏蔽罩平面度问题会对CCD产生各种可能的影响，比如畸变，照片不对焦等物理摄影问题。屏蔽罩平面度问题会导致CCD不常规地吸收或散射光线，从而产生图像失调。

如何避免平面度问题

当设计师决定使用屏蔽罩时，需要特别留意屏蔽罩表面与CCD芯片表面的平面度。 一种解决方案是使用高质量的屏蔽罩。另外，设计师可以采用几何设计方法来在设计中嵌入稳定的调整平面度的措施。这些方法包括具有“大体育馆”形状的屏蔽罩，以及具有旋转路径的屏蔽罩。此外，一旦CCD芯片被设置，它就不能被重新设置，因此设计者应该要确定植入位置，并在测试前确保它的位置是恰当的。